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庆祝我司32.768碍贬锄贴片晶振测试仪改进成功

更新日期:2025-06-26      浏览次数:28

热烈祝贺我司32.768碍贬锄贴片晶振测试仪改进项目圆满成功!这一成果凝聚着全体研发团队的智慧与汗水,标志着我司在晶振检测技术领域实现新突破。此次改进大幅提升测试精度与效率,为产物质量管控注入更强动力,期待未来继续携手,攀登更多技术高峰!

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经过此次技术升级,以下这些32.768碍贬锄晶振均可以快速测试,有效提高了测试效率。

图片类型型号封装尺寸频率电压/负载频差工作温度样品申请PDF
庆祝我司32.768碍贬锄贴片晶振测试仪改进成功32.768KHz 时钟晶振 SMD2012H212.0x1.2x0.6mm32.768KHz12.5pF or specif±10ppm or specif-40℃~+85℃ or specif浏览
庆祝我司32.768碍贬锄贴片晶振测试仪改进成功32.768KHz 时钟晶振 SMD3215H313.2x1.5x0.75mm32.768KHz12.5pF or specif±10ppm or specif-40℃~+85℃ or specif浏览
庆祝我司32.768碍贬锄贴片晶振测试仪改进成功32.768KHz 时钟晶振 SMD7015G1467.0x1.5mm32.768KHz12.5pF or specif±10ppm or specif-40℃~+85℃ or specif浏览
庆祝我司32.768碍贬锄贴片晶振测试仪改进成功32.768KHz 时钟晶振 SMD8038G3068.0x3.8x2.54mm32.768KHz12.5pF or specif±10ppm or specif-40℃~+85℃ or specif浏览
庆祝我司32.768碍贬锄贴片晶振测试仪改进成功32.768KHz 圆柱晶振 2*6Y262.0x6.0mm32.768KHz12.5pF or specif±10ppm or specif-20℃~+70℃ or specif浏览
庆祝我司32.768碍贬锄贴片晶振测试仪改进成功32.768KHz 圆柱晶振 3*8Y383.0x8.0mm32.768KHz12.5pF or specif±10ppm or specif-20℃~+70℃ or specif浏览


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